Авторизация
Забыли пароль? Введите ваш е-мейл адрес. Вы получите письмо на почту со ссылкой для восстановления пароля.
После регистрации вы можете задавать вопросы и отвечать на них, зарабатывая деньги. Ознакомьтесь с правилами, будем рады видеть вас в числе наших экспертов!
Вы можете войти или зарегистрироваться, чтобы добавить ответ и получить бонус.
Атомная кристаллическая решетка определяется с помощью рентгеновской дифракции или электронной дифракции. Эти методы позволяют изучать взаимодействие рентгеновских или электронных лучей с атомами в кристалле и получать информацию о расположении атомов в пространстве.
Процесс определения атомной кристаллической решетки включает следующие шаги:
1. Подготовка образца: Кристалл должен быть чистым и хорошо отполированным. Образец должен быть достаточно тонким, чтобы пропускать рентгеновские или электронные лучи.
2. Измерение дифракционной картины: Рентгеновские или электронные лучи проходят через образец и рассеиваются на атомах. Полученная дифракционная картина представляет собой совокупность интерференционных максимумов и минимумов, которые можно записать на фотопластинке или электронном детекторе.
3. Анализ дифракционной картины: Дифракционная картина анализируется с помощью математических методов, таких как преобразование Фурье или методы Фурье-анализа. Это позволяет определить расстояния между атомами и их расположение в пространстве.
4. Определение кристаллической решетки: Используя полученные данные, можно определить параметры кристаллической решетки, такие как длины ребер элементарной ячейки, углы между ребрами и симметрию кристалла.
В результате этих шагов можно определить атомную кристаллическую решетку и получить информацию о структуре кристалла.
Напишите, почему вы считаете данный ответ недопустимым: